ТАБЛИЦА К ПУНКТУ 2.5.3.6. ТЕХНИЧЕСКИЕ ПРИЕМЫ НАНЕСЕНИЯ ПОКРЫТИЙ

а) скорость преобразования в
цифровую форму 200 млн. проб в
секунду или более и разрешение 10
бит или более; и
б) непрерывную пропускную
способность 2 Гбит/с или более

Техническое примечание.
Для таких приборов с
архитектурой на параллельной шине
непрерывная пропускная способность
есть произведение наибольшего
объема слов на количество бит в
слове. Непрерывная пропускная
способность - это наивысшая
скорость передачи данных
аппаратуры, с которой информация
поступает в запоминающее
устройство без потерь при
сохранении скорости выборки и
- аналого-цифрового преобразования;

- 3.1.2.1.6. Устройства записи данных цифровой 8471 50 000 0;
- аппаратуры, использующие способ 8471 60;
- хранения на магнитном диске, 8471 70 200 0;
- имеющие все следующие 8471 70 300 0;
- характеристики: 8471 70 500 0;
- а) скорость преобразования в 8519 81 900 0;
- цифровую форму 100 млн. проб в 8519 89 900 0;
- секунду и разрешение 8 бит или 8521 90 000 9;
- более; и 8522 90 400 0;
- б) непрерывную пропускную 8522 90 800 0
способность не менее 1 Гбит/с или
- более;

- 3.1.2.2. Электронные сборки синтезаторов 8543 20 000 0
частот, имеющие время переключения
- частоты менее 1 мс;

- 3.1.2.3. Анализаторы сигналов радиочастот:

- 3.1.2.3.1. Анализаторы сигналов, способные 9030 84 000 9;
- анализировать любые сигналы с 9030 89 300 0
частотой выше 31,8 ГГц, но не
превышающей 37,5 ГГц, и имеющие
разрешающую способность 3 дБ для
ширины полосы пропускания более 10
- МГц;

- 3.1.2.3.2. Анализаторы сигналов, способные 9030 84 000 9;
- анализировать сигналы с частотой 9030 89 300 0
- выше 43,5 ГГц;

- 3.1.2.3.3. Динамические анализаторы сигналов 9030 20 200 9;
- с полосой частот в реальном 9030 32 000 9;
- масштабе времени, превышающей 500 9030 39 000 9;
- кГц 9030 84 000 9;
- 9030 89 300 0
Примечание.
По пункту 3.1.2.3.3 не
контролируются динамические
анализаторы сигналов, использующие
только фильтры с полосой
пропускания фиксированных долей
(известны также как октавные или
- дробно-октавные фильтры);

- 3.1.2.4. Генераторы сигналов 8543 20 000 0
синтезированных частот,
формирующие выходные частоты с
управлением по параметрам
точности, кратковременной и
долговременной стабильности на
основе или с помощью внутренней
эталонной частоты и имеющие любую
из следующих характеристик:
а) максимальную синтезируемую
частоту выше 31,8 ГГц, но не
превышающую 43,5 ГГц, и
предназначенные для создания
длительности импульса менее
- 100 нс;
- б) максимальную синтезируемую
- частоту выше 43,5 ГГц;
- в) время переключения с одной
выбранной частоты на другую менее
1 мс; или
г) фазовый шум одной боковой
полосы лучше -(126 + 20 lgF - 20
lgf) в единицах (дБ по шкале C
шумомера)/Гц, где F - смещение от
рабочей частоты в Гц, а f -
рабочая частота в МГц

Примечание.
По пункту 3.1.2.4 не
контролируется аппаратура,
в которой выходная
частота создается либо путем
сложения или вычитания частот с
двух или более кварцевых
генераторов, либо путем сложения
или вычитания с последующим
умножением результирующей частоты

Техническое примечание.
Для целей подпункта "а" пункта
3.1.2.4 длительность импульса
определяется как временной
интервал между передним фронтом
импульса, достигающим 90% от
максимума, и задним фронтом
импульса, достигающим 10% от
максимума

3.1.2.5. Схемные анализаторы (панорамные 9030 40 000 0
- измерители полных сопротивлений;
- измерители амплитуды, фазы и
групповой задержки двух сигналов
относительно опорного сигнала) с
максимальной рабочей частотой,
- превышающей 43,5 ГГц;

- 3.1.2.6. Микроволновые приемники-тестеры, 8517 69 390 0
имеющие все следующие
характеристики:
а) максимальную рабочую частоту,
превышающую 43,5 ГГц; и
б) способные одновременно измерять
- амплитуду и фазу;

- 3.1.2.7. Атомные эталоны частоты, имеющие 8543 20 000 0
любую из следующих характеристик:
а) долговременную стабильность

-11
1 x 10 в месяц; или
б) пригодные для применения в
космосе

Примечание.
По подпункту "а" пункта 3.1.2.7 не
контролируются рубидиевые эталоны,
непригодные для применения в
космосе

Особое примечание.
В отношении атомных эталонов
частоты, указанных в подпункте "б"
пункта 3.1.2.7, см. также пункт
3.1.1 раздела 2

- 3.1.3. Терморегулирующие системы 8419 89 989 0;
- охлаждения диспергированной 8424 89 000 9;
- жидкостью, использующие 8479 89 970 9
оборудование с замкнутым контуром
для перемещения и регенерации
жидкости в герметичной камере, в
которой жидкий диэлектрик
распыляется на электронные
компоненты при помощи специально
разработанных распыляющих сопел,
применяемых для поддержания
температуры электронных
компонентов в пределах их
рабочего диапазона, а также
специально разработанные для них
компоненты

3.2. Испытательное, контрольное и
производственное оборудование

3.2.1. Нижеперечисленное оборудование для
производства полупроводниковых
приборов или материалов и
специально разработанные
компоненты и оснастка для них:

3.2.1.1. Оборудование для эпитаксиального
выращивания:

3.2.1.1.1. Оборудование, обеспечивающее 8486 10 000 9
производство любого из следующего:
а) силиконового слоя с отклонением
равномерности его толщины менее
+/- 2,5% на расстоянии 200 мм или
более; или
б) слоя из любого материала,
отличного от силикона, с
отклонением равномерности толщины
менее +/- 2,5% на расстоянии 75 мм


Страницы: 22 из 93  <-- предыдущая  cодержание   следующая -->