ТП = R 10 L,

идентификации или классификации
целей; или
г) наложение и корреляция или
синтез данных о цели от двух или
более пространственно
распределенных и взаимосвязанных
радиолокационных датчиков для
усиления распознавания целей

Примечания:
1. По подпункту "а" пункта
6.1.8.12 не контролируются
средства выдачи сигнала для
предупреждения столкновений в
системах контроля воздушного
движения, морских или прибрежных
РЛС
2. По подпункту "г" пункта
6.1.8.12 не контролируются
системы, оборудование и узлы,
используемые для контроля морского
движения

Особое примечание.
В отношении локационных систем,
оборудования и узлов, указанных в
подпункте "в" пункта 6.1.8.12, см.
также пункт 6.1.6.4 раздела 2 и
пункт 6.1.3 раздела 3

Примечание.
По пункту 6.1.8 не контролируются:
а) обзорные РЛС с активным
- ответом;
- б) автомобильные РЛС,
предназначенные для предотвращения
- столкновений;
- в) дисплеи или мониторы,
используемые для управления
воздушным движением (УВД), имеющие
не более 12 различимых элементов
- на 1 мм;
- г) метеорологические локаторы

6.2. Испытательное, контрольное и
производственное оборудование

6.2.1. Акустика - нет

6.2.2. Оптические датчики - нет

6.2.3 Камеры - нет

Оптика

6.2.4. Следующее оптическое оборудование:

6.2.4.1. Оборудование для измерения 9031 49 900 0
абсолютной отражательной
способности с погрешностью
+/- 0,1% от величины отражательной
- способности;

- 6.2.4.2. Оборудование, отличное от 9031 49 900 0
оборудования для измерения
оптического поверхностного
рассеяния, имеющее незатемненную
апертуру с диаметром более 10 см,
специально разработанное для
бесконтактного оптического
измерения неплоской фигуры
(профиля) оптической поверхности с
точностью 2 нм или меньше (лучше)
от требуемого профиля

Примечание.
По пункту 6.2.4 не контролируются
микроскопы

6.2.5. Лазеры - нет

6.2.6. Магнитометры - нет

Гравиметры

6.2.7. Оборудование для производства, 9031 80 380 0
юстировки и калибровки гравиметров
наземного базирования со
статической точностью лучше 0,1
миллигала

Радиолокаторы

6.2.8. Импульсные локационные системы 8526 10 000 9
для измерения поперечного сечения,
имеющие длительность передаваемых
импульсов 100 нс или менее, и
специально разработанные для них
компоненты

Особое примечание.
В отношении импульсных локационных
систем, указанных в пункте 6.2.8,
см. также пункт 6.2.1 разделов 2 и
3

6.3. Материалы

6.3.1. Акустика - нет

Оптические датчики

6.3.2. Материалы оптических датчиков:

6.3.2.1. Теллур (Te) с чистотой 99,9995% 2804 50 900 0
- или более;

- 6.3.2.2. Монокристаллы (включая пластины с 3818 00 900 0;
- эпитаксиальными слоями) любого из 8107 90 000 0
следующего:
а) теллурида цинка-кадмия с
содержанием цинка менее 6% по
- мольным долям;
- б) теллурида кадмия (CdTe) любой
чистоты; или
в) теллурида ртути-кадмия (HgCdTe)
любой чистоты

Техническое примечание.
Мольная доля определяется
отношением молей ZnTe к сумме
молей CdTe и ZnTe, присутствующих
в кристалле

6.3.3. Камеры - нет

Оптика

6.3.4. Следующие оптические материалы:

- 6.3.4.1. Заготовки из селенида цинка (ZnSe) 2830 90 850 0;
- и сульфида цинка (ZnS), полученные 2842 90 100 0
химическим осаждением паров,
имеющие любую из следующих
характеристик:
а) объем более 100 куб. см; или
б) диаметр более 80 мм и толщину
- 20 мм или более;

- 6.3.4.2. Були следующих электрооптических
материалов:

6.3.4.2.1. Арсенат титанила-калия (КТА); 2842 90 800 0

6.3.4.2.2. Селенид серебра-галлия (AgGaSe ); 2842 90 100 0
2
6.3.4.2.3. Селенид таллия-мышьяка (Tl AsSe , 2842 90 100 0
3 3
- известный также как TAS);

- 6.3.4.3. Нелинейные оптические материалы, 7020 00 800 0
имеющие все следующие
характеристики:
а) кубичную восприимчивость (хи 3)
-6 2
10 кв. м/В или более; и
- б) время отклика менее 1 мс;

- 6.3.4.4. Заготовки карбида кремния или 2849 20 000 0;
- осажденных материалов 8112 19 000 0
бериллия-бериллия (Be/Be) с
диаметром или длиной главной оси
- более 300 мм;

- 6.3.4.5. Стекло, в том числе кварцевое 7001 00 910 0;
- стекло, фосфатное стекло, 7001 00 990 0;
- фторофосфатное стекло, фторид 7020 00 800 0
циркония (ZrF ) и фторид гафния
4
(HfF ), имеющее все следующие
4
характеристики:
а) концентрацию гидроксильных
ионов (ОН-) менее 5 частей на
- миллион;
- б) интегральные уровни чистоты по
- металлам лучше 1 части на миллион;
- и
в) высокую однородность
(флуктуацию коэффициента
-6


Страницы: 44 из 93  <-- предыдущая  cодержание   следующая -->